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    SPC統計過程控制

 

    統計過程控制（Statistical Process Control,縮寫為SPC）是由美國休哈特博士于上世20年代提出的，自第二次世界大戰后，SPC已逐漸成為西方工業國家進行在線質量控制的基本方法。根據SPC理論，產品質量特性的波動是出現質量問題的根源，質量波動具有統計規律性，通過控制圖可以發現異常，通過過程控制與診斷理論（SPCD）可以找出異常的原因并予以排除。常用的休哈特控制圖有均值－極差（x-R）控制圖，均值－標準差（x-S）控制圖，中位數－極差（x-R）控制圖，單值－移動極差（x-Rs）控制圖，不合格品率（P）控制圖，不合格品數（Pn）控制圖，缺陷數（C）控制圖，單位缺陷數（u）控制圖等。SPC方法是保持生產線穩定，減少質量波動的有力工具。

 

    近年來，SPC方法獲得進一步發展，例如波音公司為了貫徹健壯設計思想，推出了一套新的供應商質量保證規范Dl-9000，主要的變化是要求建立先進的質量體系（Advanced Quality System，縮寫為AQS）。AQS體系將田口的質量損失的概念納入到生產制造階段的質量管理之中，提出了一整套與健壯設計相適應的生產制造質量控制要求。

 

    AQS體系首先要求確定生產制造階段產品的關鍵特性，對這些關鍵特性及其所涉及的零部件，要求開展工藝健壯設計，以便確定健壯的工藝。在生產制造中要建立對關鍵特性的監控措施，除了應用SPC的常規控制圖外，AQS給出了三種小批量控制圖即單值移動極差控制圖、目標控制圖和比例控制圖，兩種改進的控制圖即移動平均控制圖和幾何移動平均控制圖，另外還有提高控制圖監控靈敏度的一些措施。根據監控情況和實際需要，改進工藝參數或改進工藝設計，糾正引起質量波動的任何人機料法環的因素，從而實現質量的連續改進。